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Photonfocus MV4-D1280U-H01-GT 是一款专为紫外（UV）及多光谱成像设计的科研级CMOS相机，采用全局快门技术和背照式（BSI）传感器结构，覆盖深紫外（150nm）至近红外（1020nm）光谱范围。其核心优势在于高灵敏度、高帧率及模块化设计，适用于半导体检测、激光分析、铁路弓网监测等工业与科研场景。
高灵敏度与宽光谱响应
传感器光谱响应范围为150-1020nm，覆盖深紫外、可见光及近红外波段，量子效率在170-800nm范围内超过40%，550nm处达70%以上，可捕捉微弱光线信号。
背照式（BSI）设计提升光子吸收效率，降低噪声干扰，适合低光照环境。
高速成像能力
全分辨率（1280×1024）下帧率达140fps（10位模式），支持高速动态场景捕捉，如激光光束轮廓测量或运动物体缺陷检测。
支持多种读出模式（1x2、2x1、2x2等），可灵活调整数据传输效率。
全局快门与抗拖影
全局快门技术确保所有像素同步曝光，避免滚动快门导致的图像变形，适用于高速运动物体的精确成像。
模块化与工业级设计
采用坚固的工业外壳，工作温度范围0-45℃（可扩展至更高温度版本），存储温度-20-70℃，适应恶劣环境。
标准C型镜头接口支持快速更换镜头，8个M5安装孔便于固定在不同设备上。
智能信号处理与接口兼容性
支持12位ADC分辨率，提供模拟增益（校准黑电平）和数字增益（0-24dB主增益+48dB位移）调整。
主接口为10 GigE，兼容NBase-T、1 GigE及CXP协议，支持最长300米电缆传输，连接方式包括X编码M12和RJ45。
光谱需求匹配
若应用场景涉及深紫外（如电晕检测、半导体缺陷分析）或近红外成像，需确认相机光谱范围（150-1020nm）是否覆盖目标波段。
帧率与分辨率权衡
全分辨率下帧率为140fps，若需更高帧率可降低分辨率或选择ROI（感兴趣区域）模式，优化数据传输效率。
接口与兼容性
10 GigE接口支持高速数据传输，但需确认现有设备是否兼容该协议；若需长距离传输，优先选择光纤版本或兼容CXP的采集卡。
环境适应性
工作温度范围0-45℃，若应用场景温度超出此范围（如户外监测或高温工业环境），需选择扩展温度版本。
镜头与安装匹配
标准C型镜头接口需搭配适配镜头，若需特殊焦距或光圈，需提前确认镜头参数；8个M5安装孔支持多种固定方式。
传感器参数：
类型：CMOS（全局快门，背照式）
有效像素：1280（H）×1024（V）
像素尺寸：7.4μm×7.4μm
光谱响应：150-1020nm
量子效率：550nm处>70%，170-800nm范围内>40%
性能参数：
帧率：全分辨率下140fps（10位模式）
动态范围：53dB（25℃，增益1x）
暗噪声：50e-
满阱容量：19ke-
接口与控制：
主接口：10 GigE（兼容NBase-T、1 GigE、CXP）
触发模式：单拍、连拍、电平控制曝光
输出信号：频闪、2个开漏输出、1个快速TTL
电源与环境：
电源：12-24V±10%，功耗<15W（支持PoE 802.3af Class 4）
工作温度：0-45℃（可扩展）
存储温度：-20-70℃
外壳尺寸：59mm（宽）×59mm（高）×102.5mm（深）
重量：460g
安装方式：8个M5安装孔，支持固定在不同设备或平台上
镜头接口：标准C型接口，具备可调节的后法兰，适配多种镜头
半导体制造：用于晶圆划痕检测、光刻胶涂覆均匀性分析，利用高灵敏度捕捉微米级缺陷。
激光应用：紫外激光光束轮廓测量，精准呈现激光形态与能量分布，助力设备调试与性能评估。
铁路监测：受电弓火花检测，通过紫外成像及时发现电弧放电，预防接触网故障。
科研实验：材料缺陷检测、荧光光谱分析，支持高光谱成像与动态过程观测。
工业自动化：高速生产线缺陷检测，如电子元件焊接质量监控或包装印刷对齐验证。
Photonfocus MV4-D1280U-H01-GT 凭借其宽光谱响应、高帧率、全局快门及模块化设计，成为紫外及多光谱成像领域的标杆产品。选型时需重点关注光谱范围、帧率需求、接口兼容性及环境适应性，以确保与实际应用场景匹配。其广泛应用于半导体、激光、铁路、科研及工业自动化领域，为高精度检测与动态分析提供可靠解决方案。
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