Kafer FD 50 R数字式测厚仪带升降装置是德国Kafer公司推出的一款高性能工业测量设备，专为高精度、高效率的厚度检测需求设计。其创新性的升降结构与数字化测量技术相结合，在金属加工、涂层检测、质量控制等领域展现出卓越性能，成为工业检测领域的标杆产品。

一、核心性能与技术突破

1. 超微米级测量精度

• 分辨率达0.001毫米（0.00005英寸），可精准捕捉涂层、薄膜等微小厚度变化。

• 量程覆盖0—12.5毫米，支持从超薄涂层到中等厚度板材的全面检测。

• 误差控制严格，大误差仅5微米，确保数据可靠性。

• 智能升降装置

• 电动升降系统支持50毫米夹具深度调节，适配不同尺寸工件。

• 恒压接触技术通过0.7牛顿±20%标准接触力，避免压力波动导致的测量偏差。

• 三秒快速定位：升降机构响应灵敏，单手即可完成高度调节，大幅提升检测效率。

• 数字化与智能化

• 高清液晶屏实时显示测量值、统计数据（最大值/最小值/平均值）及单位（毫米/英寸）。

• 数据接口支持RS-232、USB双协议传输，兼容主流工业控制系统。

• 智能分析软件可生成测量趋势图、直方图，支持SPC（统计过程控制）分析。

二、行业应用与场景适配

1. 金属加工与表面处理

• 电镀层检测：精准测量锌、镍、铬等金属镀层的厚度，确保防腐性能达标。

• 阳极氧化层分析：适用于航空铝材、汽车轮毂等氧化膜的厚度监控。

• 涂装质量控制：在汽车车身、家电外壳的喷涂工艺中，验证漆膜均匀性。

• 复合材料与薄膜制造

• 锂电池隔膜检测：测量聚烯烃基材的厚度，保障电池安全性。

• 光学薄膜生产：在偏光片、增透膜等光学材料制造中，控制厚度波动。

• 包装材料质检：用于食品包装铝箔、塑料薄膜的厚度一致性检测。

• 科研与实验室场景

• 材料研究：在半导体芯片、MEMS器件的研发中，测量纳米级薄膜厚度。

• 失效分析：通过厚度数据追溯金属腐蚀、涂层剥离等问题的根源。

三、设计优势与用户体验

1. 工业级耐用性

• 航空铝机身：采用高强度铝合金材质，重量仅0.3千克，抗冲击性能优异。

• IP54防护等级：防尘防水设计，适应车间油污、粉尘等恶劣环境。

• 锂电池长续航：3V锂电池支持8000小时连续工作，寿命长达3年。

• 人性化操作

• 单手握持设计：符合人体工学，握柄处防滑纹理提升操作舒适度。

• 智能校准系统：支持一点校准、二点校准，校准时间＜15秒。

• 多语言界面：支持中、英、德等12国语言，满足全球化生产需求。

• 定制化扩展能力

• 可换测头模块：兼容F1、N1、CN02等多种测头，适配不同材质与测量需求。

• 软件二次开发：提供SDK开发包，支持与企业MES系统无缝集成。

Kafer FD 50 R数字式测厚仪带升降装置凭借其超微米级精度、智能升降系统与工业级耐用性，成为工业检测领域的理想选择。无论是高精度的实验室研究，还是严苛的量产环境，它均能以卓越的性能与可靠性，为质量控制提供坚实保障，助力企业实现降本增效与品质升级